SICE東北支部研究集会の講演資料 2010年度

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情報機器の実装構造が電磁情報漏洩に与える影響の測定
○池松大志, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭(東北大学)

Influence of Hardware Structure Electromagnetic Information Leackage fromInformation Device
*Takahashi Ikematsu, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone(Tohoku University)

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